oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
uk micron optoelectronics的表面粒子檢測器系列通過以下技術實現電子半導體行業表面污染的量化監測和控制:核心技術原理界面顆粒再懸浮技術?:采用界面技術,通過物理或氣流方式將附著在關鍵表面的顆粒重新懸浮,便于后續檢測。高精度光學檢測:基于激光光學傳感器和光散射原理,實時捕獲懸浮粒子的散射光信號,實現單個粒子尺寸的精確分析。